惠州DCDC升压IC测试难点分析

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DCDC升压IC集成度高，功能强大，它复杂的内部结构给她的性能、参数测试带来了很大的难度，那些DCDC升压IC测试又有那些难点呢，下面跟着迅瑞创芯小编一起来看看：

①DCDC升压IC的内部结构复杂，要对其经行测试，需要对电路的工作原理、电路的结构组成以及各组成部分之间的关系、测试参数的原理和相对应的测试方法等多方面有深刻的理解和认识。

②DCDC升压IC内部包含了许多相对独立的部分，要实现对每个部分相关参数进行测试，都需要设计专用的测试线路来囊括所有的测试项目，所以就需要测试系统有相应的配套，例如测试时间参数的测量路线(TMU)、测试输出特性的精密量单元（PMU）等，而且DCDC升压IC需的参数包含了不同类型的物理量，如频率量、时间量、电压量、电流量等，另外还包含某些需要扫描测试的阀值量，因此再测试系统中必须具备针对于不同部分和不同物理量的专用测试路线。

④由于DCDC升压IC的某些参数测试比较敏感，要求测试路线与被测电路之间的外围不能距离太大，或者在测试的过程中，某些管脚的一些小状态就会影响到该参数的测试准确性，甚至导致功能消失，所以在设计测试方案的时候就需要考虑一些控制为的外围路线如何处理额问题。

基于以上分析和其他的一些因素，目前国内还没有能够全面完成所有AC-DC电源管理芯片测试的一套理想测试系统，目前的设备基本上只能测试基本的直流参数、时间参数等，并不能很好的满足DCDC升压IC生产和应用的测试要求。

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