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惠州多节锂池保护芯片的故障分析

发布时间:2022-06-03 03:00:00来源:http://hz.szxunrui.cn/news817788.html

迅瑞创芯科技有限公司为您免费提供惠州马达驱动IC,惠州LED手电筒控制IC、惠州触摸IC、DCDC升压IC、电源管理IC等相关芯片信息发布和资讯展示,敬请关注!

多节锂池保护芯片在研发生产和使用过程中难免会有故障,再加上人们对产品质量和可靠性要求越来越严格,导致芯片故障分析变得非常重要。通过对MPS多节锂池保护芯片的故障分析,人员可以发现设计缺陷、技术参数不一致、设计和操作不当等问题。

多节锂池保护芯片的故障分析的主要意义表现在以下几个方面:

1、能确定芯片失效机理。

2、能为芯片诊断故障提供有效信息。

3、方便设计师持续改进芯片的设计,使芯片满足设计规范。

多节锂池保护芯片,超低静态电流LDO
4、能对芯片测试进行有效评估,为芯片优化验证提供有效信息。

多节锂池保护芯片的故障分析的主要步骤和内容:

1、集成电路开封:在保持芯片功能完整性的同时拆除集成电路,对芯片无效分析进行准备。

2、SEM扫描镜/EDX成分分析:材料的结构分析/缺陷观察、元素成分的常规微面积分析、正确测量成分尺寸等。

3、探针测试:芯片内部的电信号可以通过微探针快速获得。

迅瑞创芯科技有限公司专业研发供应各类马达驱动芯片和电源管理芯片,主要有惠州马达驱动IC、惠州LED手电筒控制IC、 惠州触摸IC、 DCDC升压IC、电源管理IC等品质优良的产品及报价,欢迎来电生产定制!

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