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分析手机惠州充电IC损坏的原因

发布时间：2021-12-29 03:00:00来源：http://hz.szxunrui.cn/news745299.html

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手机作为日常生活中不可缺少的产品，在生活中用途广泛人们的生活离不开手机，手机惠州充电IC出现问题会造成手机的耗电快，手机开关机出现问题等，那么为什么出现这些问题呢？

1、充电器输出规格与手机不符:山寨的小功率充电器,电流不够,会被手机拉跨,充电器反复在启动和拉跨之间跳动，其产生的冲击很容易让充电IC损坏。

2、输入电压极性不对或插反:标准的借口一般比较难插,反这个可能性有,但不高。

3、浪涌冲击:充电器质量不行的话,在给手机充电过程中,如同电网附近有大型设备开启或停止,导致电网冲击。从而使输出电压上叠加尖峰浪涌,与雷击相似，导致超过IC 极限而损坏。

4、静电损坏:电源芯片的耐压有限,一般有ESD电路做保护,如果手机设计接口暴露,且无ESD防护,则非常容易在干燥的环境和化纤衣物摩擦造成静电损坏,还有使用破损的充电线,也容易使静电通过数据线损坏到充电IC。

充电IC芯片是电子产品开关电源的脉宽控制集成,电源完全靠它来控制输出电压电流的的大小,来维趋势已经不局限于单一功能,而是将各种功能整合在一起,所以充电IC又被称为电源管理ic。

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